· 제 품 특 징
· 휴대형 단층 도금두께측정기
· 철소재위 도금 측정
· 쉽고 빠른측정 결과 확인
· 현장에서 쉽게 사용가능
· 간단한 조작법과 정확성
· XRF 장비에 필적하는 정밀측정 가능
· 소형 전극으로 작고 불균일한 샘플도 쉽게 측정가능
· 적 용 분 야
· 단층 도금의 품질 검사, 현장 도금 두께 검사, 도금 품질 확인용
· 사 양 서
모델명 | CMI243 |
제조사 | HITACHI HIGH-TECH (독일) |
측정 가능 도금측정 범위 | 아연 (Non-cyan) : 0 um - 38 um니켈 (Nickel) : 0 um - 40 um 카드뮴 (Cadmium) : 0 um - 38 um 크롬 (Chrome) : 0 um - 38 um 동 (Copper) : 0 um - 10 um 비전도코팅 / Fe : 0 um - 1270 um (SMP-1 / 옵션) |
측정 가능한 소재 | 철 (Fe) |
분해능 | 0.1 um (0.01 mils) |
정확도 | ±1% with respect to reference standards. |
표준 편차 | 0.3 % |
측정원리 | 와전류식 (Eddy-Current) |
전극 | ECP-MSMP-1 (옵션) |
측정속도 | 약 30회 / 분 |
최소 측정 면적 | 원형 샘플의 볼록면 : 1.143 mm원형 샘플의 오목면 : 3.429 mm 전극 사용 높이 : 10.16 cm 최소 측정 면적 : 2.286 mm 최소 하지 두께 : 0.3 mm |
표준 규격 | DIN 50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968 (DRAFT), ASTM B499, ASTM E376 |
메모리 용량 | 26,500 reading |
크기 | 149 x 794 x 302 mm |
무게 | 0.26 Kg (배터리 포함) |
단위 | um 또는 mil 자동 선택 |
화면표시 | Three digit LCD display, 1/2" (1.27 cm) character height. |
전원 | 9V 배터리 |
배터리 사용시간 | 연속 측정 시 65 시간 |
통계 수치 표시 | 측정 횟수, 표준 편차, 평균값, 최대, 최소값 |
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